1、環(huán)境可靠性測(cè)試

    由于手機(jī)是移動(dòng)設(shè)備，這就決定了它隨時(shí)會(huì)面臨冬天的嚴(yán)寒與靜電，夏季的酷暑與潮濕，而高低溫環(huán)境測(cè)試就是為了避免手機(jī)產(chǎn)生嚴(yán)重失效現(xiàn)象而進(jìn)行的測(cè)試。最為容易想象的就是高低溫環(huán)境測(cè)試，它會(huì)給予手機(jī)一個(gè)初始測(cè)試狀態(tài)如待機(jī)、關(guān)機(jī)或者充電，定時(shí)檢查手機(jī)在測(cè)試中的狀況。

1）高低溫環(huán)境測(cè)試

    高低溫試驗(yàn)是高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)的的簡(jiǎn)稱，試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)價(jià)高低溫條件對(duì)裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響。高低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)實(shí)施、試驗(yàn)步驟在GJB 150.3A一2009《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》中都有詳細(xì)的規(guī)定。

2）鹽霧測(cè)試

鹽霧箱條件： 5+1％NaCl溶液， 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕熱箱條件：＋40+2°，93+3％RH，持續(xù)時(shí)間48H。

3）ESD測(cè)試

    手機(jī)在接充電器和不接充電器的情況下，分別測(cè)試手機(jī)在常用使用狀態(tài)下的ESD 性能，待機(jī)和通話狀態(tài)是必須要測(cè)試的狀態(tài)。 

    接觸放電為±6KV,對(duì)裸露的金屬件（如導(dǎo)電裝飾圈、裝飾牌不同的位置）、水平耦合板、垂直耦合板連續(xù)放電各 10次后對(duì)地放電,要求：LCD 顯示和通話狀況應(yīng)良好，應(yīng)無(wú)數(shù)據(jù)丟失和功能損壞等；接觸放電每點(diǎn)每個(gè)測(cè)試電壓連續(xù)放電 10次(加嚴(yán)測(cè)試±20 次)。 

    空氣放電±10K，對(duì)翻蓋底殼/面殼、大小LCD四周、接縫、受話器、免提接口、I/O口、主機(jī)按鍵及主機(jī)底殼等處進(jìn)行放電，被選點(diǎn)每點(diǎn)每個(gè)測(cè)試電壓放電10 次(加嚴(yán)測(cè)試±20 次)，每放電一次需對(duì)地放電，要求LCD顯示和通話狀況應(yīng)良好，應(yīng)無(wú)數(shù)據(jù)丟失和功能損壞。 

完成后作好記錄。所需手機(jī)數(shù)為2 部。 

    外置天線 ESD 測(cè)試要求：天線電鍍裝飾要求測(cè)試接觸放電±8KV，空氣放電±15KV，不允許出現(xiàn)破壞性問(wèn)題（出現(xiàn)重啟或重裝電池不可恢復(fù)的問(wèn)題） 

參考標(biāo)準(zhǔn): 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)  

YD/T 1539-2006移動(dòng)通信手持機(jī)可靠性技術(shù)要求和測(cè)試方法。

4）極限溫度充電測(cè)試

5）溫升測(cè)試

    這類(lèi)測(cè)試大多數(shù)屬于破壞性的測(cè)試，我們可以理解成測(cè)試產(chǎn)品的一個(gè)極限狀態(tài)。簡(jiǎn)單的說(shuō)就是看看產(chǎn)品的可靠度，比如10厘米的微跌測(cè)試，對(duì)手機(jī)的正面和反面各微跌200次，手機(jī)LCD不能出現(xiàn)白點(diǎn)或者白斑，TP滑動(dòng)功能全領(lǐng)域有效，如果測(cè)試通過(guò)我們認(rèn)為該產(chǎn)品在這方面具備可靠度。

1）跌落測(cè)試

    分定向跌落、自由跌落、重復(fù)跌落、滾筒跌落四種跌落方式。

試驗(yàn)樣機(jī)插SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗(yàn)儀上，將高度調(diào)到 1.0m ，進(jìn)行垂直跌落測(cè)試。每個(gè)面各測(cè) 2 次，共跌落12 次。跌落測(cè)試后，首先對(duì)樣品進(jìn)行外觀、功能，結(jié)構(gòu)檢測(cè)，記錄測(cè)試狀態(tài)后，再進(jìn)行拆機(jī)檢測(cè)。

試驗(yàn)樣機(jī)插SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。 將樣品放置在 0.5m 的滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)中，進(jìn)行跌落測(cè)試，每 50 次對(duì)手機(jī)的外觀，功能，結(jié)構(gòu)做檢測(cè)，累計(jì)跌落300 次循環(huán)。 測(cè)試完成后，對(duì)手機(jī)進(jìn)行功能，結(jié)構(gòu)，裝配檢測(cè)（要求必須拆機(jī)檢查）。

2）軟壓測(cè)試

    將手機(jī)正面朝上，放置在支撐部件的中心位置上，樣品處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)并鎖住鍵盤(pán)。彈性擠壓頭以 25kg 的力、每分鐘 15～30 次的頻率擠壓樣品中間部位1000次，分別在400、600、800、1000 次進(jìn)行外觀檢查和話音通信檢查，外觀、功能應(yīng)正常，話音通信應(yīng)能正常進(jìn)行。測(cè)試結(jié)束后進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測(cè)應(yīng)無(wú)異常。

3）硬壓測(cè)試

4）小球沖擊

5）水波紋測(cè)試

6）USB/耳機(jī)接口推力測(cè)試

7）正弦振動(dòng)測(cè)試

    振動(dòng)頻率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度頻譜密度)：0.96m2/S3 持續(xù)時(shí)間: 每方向1小時(shí)(x,y,z三個(gè)方向)。 試驗(yàn)過(guò)程中檢查手機(jī)有無(wú)掉卡、關(guān)機(jī)等不良現(xiàn)象，測(cè)試結(jié)束后功能檢查應(yīng)無(wú)異常。

8）沙塵實(shí)驗(yàn)

9）包裝振動(dòng)

    實(shí)際研制過(guò)程中，壽命測(cè)試一般為加速壽命測(cè)試，以便縮短測(cè)試周期，降低生產(chǎn)成本，讓產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)盡可能暴露產(chǎn)品的缺陷，評(píng)估產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

1）SIM/T卡/內(nèi)存卡接入和拔出測(cè)試

    插入SIM 卡再取出，累計(jì)1000 次。每插拔50 次開(kāi)機(jī)檢查一次，手機(jī)不能有不識(shí)卡現(xiàn)象，測(cè)試完畢手機(jī)功能應(yīng)正常。

    插入內(nèi)存卡再取出，累計(jì) 1000 次。不支持熱插拔的機(jī)型，每插拔 100 次開(kāi)機(jī)檢查一次，支持熱插拔的機(jī)型必須在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試，每插拔 100 次檢查一次，要求測(cè)試后存儲(chǔ)卡結(jié)構(gòu)正常（不能破裂），手機(jī)無(wú)不識(shí)卡問(wèn)題，內(nèi)存卡中的內(nèi)容不可丟失。

2）USBUSB/耳機(jī)接口接入和拔出測(cè)試

    將耳機(jī)垂直插入耳機(jī)孔后，再垂直拔出，如此反復(fù)，累計(jì) 3000 次。功能應(yīng)正常。

插入數(shù)據(jù)線再拔下，累計(jì)3000次。每插拔100次開(kāi)機(jī)檢查一次，手機(jī)功能應(yīng)正常。

3）按鍵測(cè)試

    以 40~60 次/分鐘的速度，不小于 10N 的力度均勻按鍵，Dome：15 萬(wàn)次以上；Switch：10 萬(wàn)次；多維導(dǎo)航鍵：6 萬(wàn)次。每2萬(wàn)次檢查1次。Slide：1.5 萬(wàn)次；試驗(yàn)后功能應(yīng)正常。

4）觸摸屏點(diǎn)擊測(cè)試

    將手機(jī)固定在點(diǎn)擊測(cè)試儀器上， 用固定在尖端的隨機(jī)手寫(xiě)筆，加載 150g 的力，對(duì)觸摸屏點(diǎn)擊25 萬(wàn)次， 每5 萬(wàn)次對(duì)屏幕進(jìn)行檢查并清潔；手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)；測(cè)試完畢后，觸摸屏表面無(wú)損傷，功能正常。點(diǎn)擊速率：約1 次/秒

5）觸摸屏劃線測(cè)試

    將手機(jī)固定在劃線測(cè)試儀器上， 用手機(jī)自帶的手寫(xiě)筆沿觸摸屏的對(duì)角線進(jìn)行劃線測(cè)試，劃線壓力為150g 力， 測(cè)試次數(shù)10 萬(wàn)次 （反復(fù)來(lái)回為 2 次），每1 萬(wàn)次對(duì)觸摸屏功能、結(jié)構(gòu)和外觀進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)觸摸屏進(jìn)行清潔。測(cè)試結(jié)束后，觸摸屏功能應(yīng)正常，外觀無(wú)損傷（劃痕）。 （劃線速度：約30mm/秒）

6）聽(tīng)筒壽命測(cè)試

    使用0.035W， PINK  20Hz-20KHz的120小時(shí)內(nèi)無(wú)異?，F(xiàn)象。

7）馬達(dá)測(cè)試

8）揚(yáng)聲器測(cè)試

9）受話器測(cè)試

1）紙帶/羊毛氈耐磨測(cè)試

    使用多功能耐磨儀器，羊毛氈，施加 1000g 的力，在產(chǎn)品表面（有表面處理工藝）以 40 次/分鐘～60 次/分鐘的速度，以 30mm 左右的行程，在樣本表面來(lái)回磨擦，測(cè)試 2000 次(1000 個(gè)循環(huán))后 觀察外觀。

2）硬度測(cè)試

    觸摸屏硬度測(cè)試，用三菱牌 2H 鉛筆劃產(chǎn)品表面，在 45°的角度，以 500g的力度在被測(cè)殼表面劃兩筆劃刻后用橡皮擦試后檢查應(yīng)無(wú)明顯劃痕。

3）噴涂百格測(cè)試

4）耐醇性測(cè)試

5）化妝品測(cè)試

6）耐壓測(cè)試

7）振動(dòng)耐磨測(cè)試。 

5、三防測(cè)試

    區(qū)別于傳統(tǒng)的三防“防霉菌、防潮濕、防鹽霧”，手機(jī)整機(jī)的三防測(cè)試主要為防塵、防水、防跌落震動(dòng)測(cè)試。

    如防塵可靠性測(cè)試，將手機(jī)放置在粉塵試驗(yàn)箱內(nèi)， 樣品體積綜合不得超過(guò)試驗(yàn)箱有效空間的 1/3，底面積不得超過(guò)有效水平在積的 1/2；與實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)壁距離應(yīng)不小于 100mm。啟動(dòng)粉塵試驗(yàn)箱，使氣流能夠?qū)⒒覊m均勻緩慢地沉降在試驗(yàn)樣品上，最大值不得超過(guò) 2m/s。測(cè)試時(shí)間到后，將手機(jī)在粉塵箱內(nèi)靜置 2H，進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測(cè)。

國(guó)內(nèi)手機(jī)可靠性測(cè)試方面的主要標(biāo)準(zhǔn)

1）GB/T 15844.2-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)環(huán)境要求和試驗(yàn)方法。 

2）YD/T1215  900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)一動(dòng)通信網(wǎng)通用分組無(wú)限業(yè)務(wù)設(shè)備測(cè)試方法：移動(dòng)臺(tái)。

3）GB/T 15844.3-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)可靠性要求和試驗(yàn)方法。 

4）YD/T 965-1998  電信終端設(shè)備的安全要求和試驗(yàn)方法。

5）YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數(shù)字900/1800MHz TDMA 數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信系統(tǒng)電磁兼容性限值和測(cè)量方法  第一部分：移動(dòng)臺(tái)及其輔助設(shè)備。

    對(duì)手機(jī)整機(jī)進(jìn)行可靠性測(cè)試，需要對(duì)測(cè)試過(guò)程的失效現(xiàn)象進(jìn)行分析，因此在測(cè)試過(guò)程中應(yīng)把手機(jī)的失效現(xiàn)象準(zhǔn)確詳細(xì)的描述出來(lái)十分重要，從而才能便于后續(xù)分析、改進(jìn)設(shè)計(jì)，為提高手機(jī)可靠性、耐久性。